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環(huán)境與溫度對(duì)電子天平的影響電子天平是精密電子儀器,易受外界環(huán)境因素影響而產(chǎn)生誤差。由于電子天平的各種環(huán)境因素與所要求的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)不一致,由測量裝置和被測物本身的變化引起的誤差,如溫度、濕度、氣壓、振動(dòng)、電磁場、光線等引起的誤差。一般,電子天平...
雷達(dá)功率均衡器非線性失真的測試結(jié)果分析混頻器采用定向耦合器,用功率分配器代替,沒有混頻器和定向耦合器。設(shè)置合適的頻譜分析儀帶寬和參考電平,讀取識(shí)別的電壓分量,代為計(jì)算。其互調(diào)失真。使用射頻源和音頻分析儀作為高低頻信號(hào)源或任何低失真信號(hào)源。頻...
我國電子衡器檢定的規(guī)程特點(diǎn)天平機(jī)檢定規(guī)程是指對(duì)計(jì)量器具的計(jì)量性能、檢定項(xiàng)目、檢定條件、檢定方法、檢定周期、檢定結(jié)果處理等方面的技術(shù)規(guī)程。其主要功能是統(tǒng)一考核計(jì)量器具質(zhì)量,實(shí)施監(jiān)督,保證國家價(jià)值傳遞的準(zhǔn)確性和一致性。檢定規(guī)程是計(jì)量器具檢測的法...
為何使用光學(xué)顯微鏡研究固體性質(zhì)?顯微觀察是通過放大樣品的圖像,達(dá)到揭示肉眼不可見信息的目的。當(dāng)光學(xué)顯微鏡加入偏光濾光片后,它就成為一種分析工具,可用于測定晶體的光學(xué)性質(zhì)和進(jìn)行微量化學(xué)實(shí)驗(yàn)。不同的固體結(jié)構(gòu)具有不同的光學(xué)性質(zhì),如折射率、顏色、消...
什么是復(fù)式光學(xué)顯微鏡?顯微鏡是由不同功能的透鏡和顯微鏡的機(jī)械體組合而成的儀器。它可以產(chǎn)生被觀察物體的放大圖像,方便觀察。它通常用于觀察眼睛無法直接看到的微小事物。對(duì)象和對(duì)象結(jié)構(gòu)精細(xì)。一般來說,顯微鏡根據(jù)光源和透鏡系統(tǒng)的不同可分為光學(xué)顯微鏡和...
光學(xué)顯微鏡清潔方法顯微鏡是具有300多年發(fā)展歷史的精密光學(xué)儀器。自從顯微鏡問世以來,人們已經(jīng)看到了許多微小的生物體和構(gòu)成生物體的基本單位——過去看不見的細(xì)胞。不僅有放大一千倍以上的光學(xué)顯微鏡,還有放大幾十萬倍的電子顯微鏡,讓我們對(duì)生物的生命...
全自動(dòng)掃描電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡有什么區(qū)別一、定義不同:光學(xué)顯微鏡是一種利用光學(xué)原理將人眼無法分辨的微小物體放大成像的光學(xué)儀器,使人們能夠提取詳細(xì)的結(jié)構(gòu)信息。自動(dòng)掃描電子顯微鏡技術(shù)的應(yīng)用是以光學(xué)顯微鏡為基礎(chǔ)的。光學(xué)顯微鏡的分辨率為0.2μm...
掃描近場光學(xué)顯微鏡概述及應(yīng)用掃描近場光學(xué)顯微鏡(SNOM-ScanningNear-fieldOeticalMicroscope)是一種基于近場探測原理發(fā)展起來的光學(xué)掃描探針顯微鏡(SPM)技術(shù)。其分辨率突破光學(xué)衍射極限,達(dá)到10~。200...
掃描電子顯微鏡在材料科學(xué)研究中都有哪些應(yīng)用它主要由帶針尖的微懸臂梁、微懸臂梁運(yùn)動(dòng)檢測裝置、監(jiān)測其運(yùn)動(dòng)的反饋回路、掃描樣品的壓電陶瓷掃描裝置和計(jì)算機(jī)控制的圖像采集、顯示和處理系統(tǒng)組成。.懸臂的運(yùn)動(dòng)可以通過隧道電流檢測等電學(xué)方法或光束偏轉(zhuǎn)、干涉...
掃描電子顯微鏡的工作原理及主要結(jié)構(gòu)一、掃描電鏡SEM的工作原理掃描電子顯微鏡SEM利用聚焦電子束對(duì)樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描成像。樣品為塊狀或粉狀顆粒,成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中,二次電子是最重要的成像信號(hào)。電子槍發(fā)射的能...