涂層測厚儀的選型及影響因素

        涂層測厚儀的選擇及其影響因素
??用戶可根據(jù)測量需要選擇不同的測厚儀。磁性測厚儀和渦流測厚儀的厚度一般為0-5毫米。此類儀器分為探頭與主機一體，探頭與主機分離，前者操作方便，后者適用于測量非平面形狀。較厚的致密材料應(yīng)采用超聲波測厚儀測量，測得的厚度可達0.7-250mm。電解測厚儀適用于測量極細線上電鍍金、銀等金屬的厚度。
??兩用型
??該儀器德國生產(chǎn)，結(jié)合了磁性測厚儀和渦流測厚儀的功能。它可用于測量黑色金屬和有色金屬基材上的涂層厚度。如：
??銅、鉻、鋅等電鍍層的厚度或鋼上的油漆、油漆、搪瓷等鍍層厚度。
??鋁和鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
??銅、鋁、鎂、鋅等有色金屬材料的涂層厚度。
??鋁、銅、金等箔條、紙、塑料薄膜的厚度。
??各種鋼材和有色金屬材料的熱噴涂層厚度。
??該儀器符合GB/T4956和GB/T4957標準，可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
??儀器特點
??它采用雙功能內(nèi)置探頭，自動識別鐵基或非鐵基材料，并選擇相應(yīng)的測量方法進行準確測量。
??符合人體工程學(xué)設(shè)計的雙顯示結(jié)構(gòu)可以在任何測量位置讀取測量數(shù)據(jù)。
??采用手機菜單式的功能選擇方式，操作非常簡單。
??可以設(shè)置上下限值。當測量結(jié)果超過或滿足上下限值時，儀器會發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍的燈光。
??穩(wěn)定性*，通常無需校準即可長期使用。
??技術(shù)規(guī)格
??范圍：0～2000μm，
??電源：兩節(jié)AA電池
??標準配置
??常規(guī)型
??對材料進行表面保護和裝飾，如涂層、電鍍、覆層、層壓、化學(xué)生成膜等而形成的覆蓋層，在相關(guān)和國際標準中稱為涂層。
??涂層測厚已成為加工業(yè)和表面工程質(zhì)量檢驗的重要組成部分，是產(chǎn)品達到優(yōu)良質(zhì)量標準的一種手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品及涉外項目對涂層厚度有明確要求。
??涂層厚度的測量方法主要有：楔切法、光切法、電解法、厚差法測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁測量法和渦流測量法等。這些方法中的前五種是破壞性檢測。測量方法繁瑣、速度慢，多適用于抽樣檢驗。
?? X射線和β射線法是非接觸、無損測量，但設(shè)備復(fù)雜、價格昂貴，測量范圍小。由于存在放射源，用戶必須遵守輻射防護規(guī)定。 X射線法可以測量極薄的鍍層、雙層鍍層和合金鍍層。 β射線法適用于原子序數(shù)大于3的涂層和基材的測量。電容法僅用于測量細導(dǎo)體絕緣涂層的厚度。
??隨著技術(shù)的不斷進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用磁法和渦流法的測厚儀向小型化、智能化、多功能化、高精度化、實用化邁進了一步。測量分辨率達到0.1微米，精度可達1%，大大提高。它具有適用范圍廣、量程廣、操作方便、價格低廉等特點，是工業(yè)和科研中廣泛使用的測厚儀器。
??非破壞性方法既不損傷涂層也不損傷基體，檢測速度快，可以經(jīng)濟地進行大量檢測工作。
??影響因素
??a母材的磁性
??磁法測厚受母材磁性變化的影響（實際應(yīng)用中低碳鋼的磁性變化可以認為是輕微的），為避免熱處理和冷加工等因素的影響，儀器應(yīng)使用與試件母材性質(zhì)相同的標準板進行校準；也可通過待涂試件進行校準。
?? b金屬電性能
??母材的電導(dǎo)率對測量有影響，母材的電導(dǎo)率與其材料成分和熱處理方法有關(guān)。用與試件母材性質(zhì)相同的標準板校準儀器。
?? c母材厚度
??每個儀器都有一個臨界厚度的母材。大于此厚度，測量不受母材厚度的影響。該儀器的臨界厚度值如表1所示。
?? d邊緣效應(yīng)
??該儀器對試樣表面形狀的突然變化很敏感。因此，在試件的邊緣或內(nèi)角附近進行測量是不可靠的。
??電子曲率
??試樣的曲率對測量有影響。這種效果總是隨著曲率半徑的減小而顯著增加。因此，彎曲試樣表面的測量是不可靠的。
?? f 試件變形
??探頭會使軟包試件變形，因此可以在這些試件上測量可靠的數(shù)據(jù)。
?? g表面粗糙粗糙度
??母材和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的表面會導(dǎo)致系統(tǒng)誤差和偶然誤差。在每次測量中，應(yīng)增加不同位置的測量次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果母材粗糙，則必須在未鍍膜的母材試片上取幾個粗糙度相近的位置來校準儀器的零點；或使用不腐蝕母材的溶液溶解并去除覆蓋層，然后校準儀器。零點。
?? g磁場
??周圍各種電氣設(shè)備產(chǎn)生的強磁場會嚴重干擾磁法測厚。
?? h粘性物質(zhì)
??本儀器對阻礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的物質(zhì)敏感。因此，必須清除附著的物質(zhì)，以確保儀器的探頭與試件表面直接接觸。
?? i 探頭壓力
??探頭施加在試件上的壓力會影響測量讀數(shù)。因此，請保持壓力恒定。
?? j探頭的方向
??探頭的位置對測量有影響。在測量過程中，探頭應(yīng)保持垂直于樣品表面。
??須遵守的規(guī)定
??a金屬特性
??對于磁性方法，標準板母材的磁性和表面粗糙度應(yīng)與試件的母材相似。
??對于渦流法，標準片母材的電性能應(yīng)與試件母材的電性能相似。
?? b母材厚度
??檢查母材厚度是否超過臨界厚度。如果不是，請使用 3.3 中的方法之一進行校準。
??邊緣效果
??不應(yīng)在試樣的突然變化處測量，如邊緣、孔洞和內(nèi)角。
?? d曲率
??不應(yīng)在試樣的曲面上測量。
?? e讀數(shù)次數(shù)
??通常，儀器的每個讀數(shù)并不*相同，因此每個測量區(qū)域必須取多個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異也需要在任何給定區(qū)域進行多次測量，尤其是當表面粗糙時。
?? f表面清潔度
??測量前，去除表面附著的任何物質(zhì)，如灰塵、油脂和腐蝕產(chǎn)物，但不要去除任何覆蓋材料